EN-3020B分立器件测试仪

概述：EN-3020B型分立器件测试仪是用于二极管、IGBT和MOSFET的静态参数测试。系统的测试原理符合相应的国家标准、军标，系统为独立式单元，封闭式结构，具有升级扩展潜能。
系统特点：
功率源 3000V/200A
测试系统整体采用计算机操控
测试数据由计算机记录，并进行 Excel 处理
采用脉冲法测试，脉宽为国军标
自动化程度高（可按设定的程序自动测试）
测试灵活（完美应对器件及多单元模块测试）
Labview 平台开发，数据编辑处理功能强，菜单式，模块化，人机友好设备操作简单、性能稳定非常适合电气，电子类厂商, 研究所做 IQC 来料检验、器件选型，失效分析以及学校教学和轨道机车地铁高铁检测使用。
●规格环境
尺寸：250×570×280（mm）
质量：15kg
环境温度：15~40℃
工作电压；AC220V±10％（无严重谐波）
电网频率：50Hz
通信接口；USB RS232
功能单元 参数指标
基本参数 功率源：3000V/200A
栅极-发射极漏电流 IGES: 0.1-10uA±2％±0.01uA
IGES 集电极电压VCE: 0V
 栅极电压 Vge: 5-40V±3％±0.1V
 
 集电极电压VCES: 200-3000V±2％±10V
集电极-发射极电压 集电极电流ICES: 0.1-1mA±3％±0.01mA
 栅极电压 Vge: 0V
集电极-发射极饱和 VCESat:0.1-5V±2％±0.01V
电压VCESat 栅极电压Vge: ±15V±2％±0.2V
 集电极电流ICE: 10-100A±2％±1A
 
集电极-发射极截止 集电极电压VCE: 200-3000V±3％
 集电极电流ICES: 0.1-1mA±3％±0.01mA
电流ICES 
 栅极电压VGE: 0V
 
栅极-发射极阈值电 VGEth: 1-10V±2％±0.1V
压 Vce=15V
 
二极管压降测试 VF: 0.1-5V±2％±0.01V
 IF:5-100A±2％±1A
 
 Vge: 0V
反向击穿BVR BVR：200-3000V±2％±10V
反向漏电流IR IR：0.1-10mA±3％±0.01mA
 
导通电阻RDS（on） 1-10mΩ±2％±0.1 mΩ
 10-50mΩ±2％±0.5 mΩ